Heiß-Meßsystem HOMER Lieferumfang mit: l Software l Hohlleiter l Interface Kabel l Dokumentation RS-232 oder RS 485 Typische Polar- darstellung der HOMER Auto-tuning Funktion. Die Lastimpedanz wird während des Mikrowellen­ prozesses erfaßt. Der Hochleistungs-Impedanz-Analysator q ermöglicht Ihnen, die charakteristische Impedanz Ihrer   Mikrowellenlast darzustellen und zu verstehen q erlaubt Ihnen, HF-Systeme und Komponenten nach   gewünschten Charakteristiken abzustimmen, zu   programmieren oder zu entwerfen q gibt Ihnen On-Line Kontrolle über Ihren Mikrowellen­   prozeß Ein Festfrequenz-Vektor-Reflektometer, optimiert für die Frequenzen von 896, 915 oder 2540 MHz, das „HOMER Hot Measurement System“, mißt Betrag und Phase der Reflexionen von Magnetron-Mikrowellengeneratoren unter Lastbedingungen. Reduziert System-Herstellungskosten durch optimale Qualitätskontrolle des Mikrowellenprozesses Das HOMER System findet Verwendung in Test- und Kalibrierungsaufbauten. Es ermöglicht: q die Prozesssimulation während der Entwicklung und   Produktionstests vom Mikrowellen-Applikatoren q eine effiziente und schnellere Charakterisierung neuer   Geräte-Designs und Verfahrensprozesse q die Verifikation konstanter Betriebsparameter während   des Mikrowellenprozesses Eigenschaften q Ermöglicht die Prozeßkontrolle der Frequenz als   Funktion der Ausgangsleistung q Anzeige der Vorwärts- und Rückwärts-Leistung q Datenerfassung der Lastimpedanz, Frequenz und   Vorwärts / Rückwärts-Leistung (SWR / VSWR) q Ermöglicht genaue On-Line Prozeßkontrolle durch   Datenausgabe aller Meßwerte q PC Software erlaubt die Darstellung der gemessenen   Ergebnisse von VSWR, Rückwärtsverluste und   Phasenwinkel in grafischer Form q Polar Displays wie Smith-Darstellungen und Rike-   Diagramme sind Standard q Meßergebnisse können als Tabelle (ASCII-Format)   oder Grafik (PCX-Format) gespeichert und / oder   gedruckt werden, um eine weitere Bearbeitung zu   ermöglichen q Optische Möglichkeit, die Magnetron-Frequenz als   Funktion der Leistungseinstellungen zu messen q Leichte Integration in bestehende computergesteuerte   Meß- und Monitorsysteme zurück zur Auswahl © WVS-Technology, 2004